2013.09.11
カテゴリ： ソフト開発日誌
SAMSUNG SSD 840 250Gbyte 耐久試験
耐久試験は続行していたものの、試験が Fail している。 dmesg の結果を見ると、read error が散発的に発生している。dmesg の kernel 時刻を eth1 を down/up させて現在時刻と突き合わせてみる(何らかのモジュールを insmod, rmmod するか、コンソールの面前ならば USB メモリを抜き差しして dmesg に記録を付ける方法がスマートそうだ)。おおよそ 1 週間前に現象が出始めている。ログに記録された Fail と時期は一致する。 smartctl の結果を見ると Reallocated_Sector_Ct が 22 に増えていた。何故か、試験継続をしている最中に 21 に減っている。
障害が起きても、read only にはならず試験は続行している。Fail も継続して発生している。「たまたま」の障害ではなく継続使用に問題がある障害が発生しつづけ、深刻化している可能性が有る。
依然として SMART report は fail していない。SMART report を良く見ると RAW_VALUE は増えている一方で百分率表示は Fail 閾値の手前でカウントストップしている。177 Wear_Leveling_Count は特にその傾向が有る。 Round 47 で百分率表示は 1 になる。 その後の Round 48 から全く減らなくなる。SMART 表示があてにならない。
前の blog 壊れた SSD SAMSUNG 470 128GBytes 解析
全容量の 2440 倍の書き込み(Round 89)で障害発生、寿命が短い様な。
関連 blog ページリンク(2013.9.25 追記)
試験開始
試験終了
耐久試験は続行していたものの、試験が Fail している。 dmesg の結果を見ると、read error が散発的に発生している。dmesg の kernel 時刻を eth1 を down/up させて現在時刻と突き合わせてみる(何らかのモジュールを insmod, rmmod するか、コンソールの面前ならば USB メモリを抜き差しして dmesg に記録を付ける方法がスマートそうだ)。おおよそ 1 週間前に現象が出始めている。ログに記録された Fail と時期は一致する。 smartctl の結果を見ると Reallocated_Sector_Ct が 22 に増えていた。何故か、試験継続をしている最中に 21 に減っている。
障害が起きても、read only にはならず試験は続行している。Fail も継続して発生している。「たまたま」の障害ではなく継続使用に問題がある障害が発生しつづけ、深刻化している可能性が有る。
依然として SMART report は fail していない。SMART report を良く見ると RAW_VALUE は増えている一方で百分率表示は Fail 閾値の手前でカウントストップしている。177 Wear_Leveling_Count は特にその傾向が有る。 Round 47 で百分率表示は 1 になる。 その後の Round 48 から全く減らなくなる。SMART 表示があてにならない。
前の blog 壊れた SSD SAMSUNG 470 128GBytes 解析
全容量の 2440 倍の書き込み(Round 89)で障害発生、寿命が短い様な。
関連 blog ページリンク(2013.9.25 追記)
試験開始
試験終了
お気に入りの記事を「いいね！」で応援しよう
最終更新日
2013.09.25 01:56:16 コメントを書く
[ソフト開発日誌] カテゴリの最新記事
-
Final Data Photo Recovery 9.0 - exFAT … 2024.06.06
-
商用電源監視サーバー更新 - 閏年 2/29 以… 2024.05.31
-
Futaba M202MD10B アプリ と コマンドシー… 2023.09.05
【毎日開催】
15記事にいいね！で1ポイント
カレンダー
サイド自由欄
コメント新着
© Rakuten Group, Inc.
